エヌエフ回路設計ブロック×パトライト共同セミナー(NFC)

 

『もう設備トラブルで悩まない!』
AE計測×信号灯のW効果で設備の見える化を加速させるセミナー
~ 設備異常を『見える化』し、予知保全で設備の未来を守る! ~

本セミナーは終了しました

 

摩耗・亀裂・故障を、早期に捉えられるAE(アコースティック・エミッション)計測は、素材の耐久性評価試験や、金属加工などの製造工程における予知保全などに注目されています。
また、検出された異常を適切に通知・表示して「見える化」するためには様々な課題があります。本セミナーではAE計測の概要と活用事例を株式会社エヌエフ回路設計ブロックから、株式会社パトライトが「見える化」の重要性と信号灯を活用した様々な現場の「見える化」ソリューションをご紹介します。

日時  2024年8月29日(木) 14:00 ~(約1時間)

定員  500名(※定員になり次第〆切とさせていただきます)

実施方式オンライン(Web会議システムZoom)

費用  無料

受講対象

  • ・これからAEを使ってみたい方(予知保全、故障検知)
  • ・研究・開発・製造に関する製造設備の故障予知を検討している方
  • ・データの見える化にお困りの方

セミナー内容

  • ●AE計測とは(株式会社エヌエフ回路設計ブロック)
    • ・AEの基礎知識と計測方法
    • ・計測事例の紹介(引張試験、金属加工の工作物監視など)
    • ・AE計測システムの構成、選び方と使い方
  • ●見える化の重要性とソリューション事例(株式会社パトライト)
    • ・さまざまな業界における「見える化」課題
    • ・「見える化」事例紹介
  • ●AE計測から見える化へつなげる(パネルディスカッション)

 

ご用意いただくもの

  • ・視聴用端末(PC、タブレット、スマートフォンなど)
  • ・インターネット回線、スピーカー、マイク

お申し込みから受講まで

  1. お申し込み手続き
    下のフォームより申込みください。
  2. 受講票の発行
    Zoomの受講票発行ページが表示されます。
    必要事項を入力して受講票をお受け取りください。
  3. セミナー当日
    受講票に記載の「ここをクリックして参加」から聴講してください。