周波数特性分析器を使った電源制御ループの安定性評価
＜ 東京 (池袋) ＞
周波数特性分析器（Frequency Response Analyzer）を用いて電源回路のループ・ゲイン特性を測定することで、回路の安定性の定量的な評価が可能です。
本セミナーでは、実際の電源回路を測定するデモンストレーションを交えて、ループ・ゲイン特性および出力インピーダンスの測定方法をわかりやすく解説します（本年1/29開催したセミナーと同じ内容です）。
測定に関する個別相談を承ります。お客様の電源基板のお持ち込みも可能です。
※本セミナーはOnline開催ではありません。セミナー会場にてご参加ください。日時
2026年9月4日（金） 13:30 - 15:00（13:00受付）
※セミナー後に個別相談承ります。
場所
エヌエフ回路設計ブロック NFテクニカルスクエア
東京都豊島区西池袋3-1-13 西池袋パークフロントビル8F
（池袋駅 徒歩5分）
定員
30名
セミナー内容
- 周波数特性分析器とは？
- 電源制御ループの安定性評価手法
- ループ・ゲイン特性 / 出力インピーダンス測定の概要と実演
- デモ実演（降圧DCDCコンバータ / LEDドライバ / 反転出力DCDCコンバータ 等）
- エヌエフの周波数特性分析器の紹介
個別相談
測定のご相談承ります。お客様の基板を持参いただき、測定の相談も
可能です。
*基板持参にてご相談希望の方は、お申し込みフォームにその旨入力ください。測定箇所の検討を目的に、事前に回路図をご送付いただきます。
受講対象
- FRA の導入を検討している方
- 今後FRAを用いた電源評価を行う予定の方
- 電源回路の評価手法に課題を抱えている方